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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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表面涂層測(cè)厚儀的影響因素以及使用規(guī)定
點(diǎn)擊次數(shù):1680      更新時(shí)間:2020-07-06

測(cè)量原理

  . 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀

  磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可行測(cè)量。鑒于大多數(shù)業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)成這記錄過程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。

  這種儀器的點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制

  

  使用規(guī)定

  a 基體金屬性

  對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對(duì)于渦方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

  b 基體金屬厚度

  檢查基體金屬厚度是否過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法行校準(zhǔn)。

  c 邊緣效應(yīng)

  不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測(cè)量。

  d 曲率

  不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

  e 讀數(shù)次數(shù)

  通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同,因此在每測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局差異,也要求在給定的面積內(nèi)行多次測(cè)量,表面粗時(shí)更應(yīng)如此。

  f 表面清潔度

  測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去何覆蓋層物質(zhì)

  涂層測(cè)厚儀中F,N以及FN的區(qū)別:

  F代表ferrous 鐵磁性基體,F(xiàn)型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理, 來測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。

  N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦原理;來測(cè)量用渦傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。

  FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理,又采用采用電渦原理,是F型和N型的二合型涂層測(cè)厚儀。

   影響因素

  有關(guān)說明

  a 基體金屬磁性質(zhì)

  磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件行校準(zhǔn)。

  b 基體金屬電性質(zhì)

  基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器行校準(zhǔn)。

  c 基體金屬厚度

  每種儀器都有個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

  d 邊緣效應(yīng)

  本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處行測(cè)量是不可靠的。

  e 曲率

  試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

  f 試件的變形

  測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

  g 表面粗糙度

  基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)